Mesureur digital d'épaisseur de revetement SAUTER TE | Balance Express

Mesureur digital d'épaisseur de revetement SAUTER TE

410,00 € HT

410,00 € - 520,00 €

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Neuf

Référence

TE 1250-0.1F

SAUTER TE ► Design ergonomique avec sonde externe pour un confort d'utilisation très élevé

Description complète et documents

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Bloc d'étalonnage: standard pour l'ajustage et le bon positionnement de l'appareil de mesure.

Fonction de focalisation : augmente la précision de mesure d‘un appareil au sein d‘une plage de mesure donnée.

Interface de données RS-232: Pour connecter la balance à une imprimante, un PC ou un réseau.

Fonctionnement avec pile: Le type de pile est indiqué pour chaque appareil.

Expédition de colis par service de messagerie rapide. Livraison 2 jours.

Option disponible dans le panier - Logiciel: pour la transmission des données de mesure de l'appareil vers un ordinateur.

Option disponible dans le panier - Certificat ISO. La durée de la mise à disposition du certificat est de 3 jours.

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SondeExterne MesureurDigitalDépaisseur MesureurDigital MesureurDépaisseurDeReveteme ÉpaisseurDeRevetement Revetement Épaisseur TE1250-0.1F TE1250-0.1FN SAUTER TE SAUTERTE

Modèle

Caractéristiques

Prix HT

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Modèle

Caractéristiques

TE 1250-0.1F Voir spécifications

Caractéristiques

Plage de mesure [Max] µm:

100 µm | 1250 µm

Lecture [d] µm:

0,1 µm | 1 µm

Objet de contrôle:

Revêtements sur fer et acier

Plus petite surface des échantillons convexe (rayon) mm:

1.5 mm

Plus petite surface des échantillons concave (rayon) mm:

25 mm

Plus petite surface des échantillons plane (rayon) mm:

1,5 mm

Epaisseur minimum de la base:

300 µm

Option Certificat d'étalonnage usine:

410,00 € HT

Prix HT

Stock

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Action

Disponible en stock

48 - 72h

Modèle

Caractéristiques

TE 1250-0.1N Voir spécifications

Caractéristiques

Plage de mesure [Max] µm:

100 µm | 1250 µm

Lecture [d] µm:

0,1 µm | 1 µm

Objet de contrôle:

Revêtements isolants, (anodisation, peinture) sur métaux non magnétiques

Plus petite surface des échantillons convexe (rayon) mm:

3 mm

Plus petite surface des échantillons concave (rayon) mm:

50 mm

Plus petite surface des échantillons plane (rayon) mm:

5 mm

Epaisseur minimum de la base:

300 µm

Option Certificat d'étalonnage usine:

450,00 € HT

Prix HT

Stock

Délai d'expédition

Action

Disponible en stock

48 - 72h

Modèle

Caractéristiques

TE 1250-0.1FN Voir spécifications

Caractéristiques

Plage de mesure [Max] µm:

100 µm | 1250 µm

Lecture [d] µm:

0,1 µm | 1 µm

Objet de contrôle:

Mesureur de combinaison: F, N

Plus petite surface des échantillons convexe (rayon) mm:

3 mm

Plus petite surface des échantillons concave (rayon) mm:

50 mm

Plus petite surface des échantillons plane (rayon) mm:

5 mm

Epaisseur minimum de la base:

300 µm

Option Certificat d'étalonnage usine:

520,00 € HT

Prix HT

Stock

Délai d'expédition

Action

Disponible en stock

48 - 72h

Description

Sonde externe pour des accès difficiles
Interface de données RS-232, incluse
Plaque zéro et feuilles d'ajustage incluses
Livré avec sa mallette de transport
Offset-Accur: Avec cette fonction, l'instrument peut être calibré avec plus de justesse, en utilisant 2 valeurs pour la calibration. Dans ce cas la précision sera de 1 % de la valeur affichée
Unités disponibles: µm, inch (mil)
Auto-Power-Off

Téléchargements

Brochure SAUTER TE (FR)

Téléchargement (223.47KB)

Mode d'emploi SAUTER TE (FR)

Téléchargement (325.75KB)

Brochure SAUTER TE (EN)

Téléchargement (214.45KB)

Usage manual SAUTER TE (EN)

Téléchargement (290.13KB)

Dépliant SAUTER TE (IT)

Téléchargement (215.63KB)

Istruzioni d’uso SAUTER TE (IT)

Téléchargement (290.93KB)

Einzelprospekt SAUTER TE (GE)

Téléchargement (223.33KB)

Betriebsanleitung SAUTER TE (GE)

Téléchargement (297.08KB)

Folleto SAUTER TE (ES)

Téléchargement (217.53KB)

Instrucciones SAUTER TE (ES)

Téléchargement (295.08KB)

Références spécifiques

EAN-13: 4045761140141

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